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气与炬优先 · 锥与雾化器其次 · 电路最后
赛默飞 iCAP 系列 ICP 常见故障：先分气、炬、进样三段
ICP 的故障有个特点：多数「仪器故障」其实是耗材和进样系统的问题。锥孔堵一点、雾化器半堵、泵管老化，都会表现成灵敏度下降和结果漂移。先按气—炬—进样三段过一遍，再考虑电路和光路。
氩气与气路炬管与 RF雾化器与泵管采样锥与截取锥真空系统
第一步：确认气和炬
点火相关的故障，先在这两项上排除：
- 氩气纯度：不到 99.999% 会点火困难或点着后很快熄灭。换过气源后出问题的，优先怀疑气。
- 输出压力与余量：压力不足时炬焰不稳。钢瓶接近用完时压力会下降，表现和故障相似。
- 炬管积盐：高盐样品长期分析会在炬管和中心管口积盐，导致点火困难、炬焰发黄。拆下检查，必要时酸洗或更换。
- 炬管安装位置：装偏或密封圈老化会导致漏气，也是点火失败的常见原因。
如果气正常、炬干净、安装到位仍然点不着，再怀疑 RF 线圈、点火组件或电路，这时不建议现场继续拆。
灵敏度下降：按「从外到内」的顺序查
这是 ICP 最高频的问题。顺序很重要，从最外面开始：
| 顺序 | 检查点 | 典型表现 |
|---|---|---|
| 1 | 进样管与泵管 | 泵管老化变形，进液量下降，全部元素响应同比例降低 |
| 2 | 雾化器 | 半堵或部分堵塞，雾化效率下降，信号降低且不稳定 |
| 3 | 雾化室与中心管 | 积液、积盐，导致信号波动大 |
| 4 | 采样锥与截取锥 | 锥孔积盐或变形，轻元素与重元素响应下降不一致 |
| 5 | 光路/检测器（OES）或离子透镜（MS） | 全谱响应整体下降 |
判断技巧：看是所有元素一起降还是某些元素降。全部同比例降，多是进样量或雾化效率问题；部分元素降，更可能是锥孔或光路问题。
内标漂移怎么判断来源
内标回收率超出 80%-120% 时，按这个顺序分：
- 样品基体：高盐、高酸样品会造成物理干扰，先看是不是所有样品都漂
- 进样系统：泵管、雾化器状态，看漂移是否随时间单调恶化
- 锥的状态：锥孔积盐会让内标逐渐下降，通常伴随灵敏度同步下降
- 等离子体稳定性：炬管积盐、气路波动，表现为内标忽高忽低
单调恶化多为积盐或堵塞，随机波动多为气路或等离子体。这个区分对后续处理很关键：前者要洗锥，后者要查气。
真空报警（MS）：先别拆腔体
真空抽不上去的处理顺序：
- 确认前级泵油位与油质，油劣化会直接导致抽速不足
- 检查放空阀是否完全关闭、接口是否漏气
- 确认分子涡轮泵是否正常启动（听声音、看控制器状态）
- 上述都正常仍达不到真空，才怀疑腔体密封或泵本身
腔体拆装需要专用工具和洁净环境，现场拆开极易造成二次污染，这一步建议交给专业维修。
常见问题
ICP 点不着火最常见的原因
氩气纯度不够和炬管积盐这两项最常见。换气后出问题的先怀疑气；长期做高盐样品的先检查炬管和中心管口。气正常、炬干净仍点不着，再看 RF 和点火电路，这部分不建议自行处理。
灵敏度下降一定要换锥吗
不一定。锥可以先清洗：用去离子水和稀酸超声，注意不要用硬物刮擦锥孔，锥孔变形是不可逆的。清洗后仍不恢复、或锥孔明显变形、或有烧蚀痕迹，才考虑更换。
泵管多久换一次
按使用强度定，常规 1-3 个月，做高盐或高有机样品时更频繁。泵管老化变形会导致进液量下降，表现是灵敏度整体下降且重复性变差，这是最容易被误判成「仪器坏了」的耗材问题。
你们能修哪些部分
第三方维修可做：气路与压力检查、炬管与雾化器清洗更换、锥的清洗与更换、泵管与进样系统维护、常见报警判断与参数校准。涉及 RF 发生器、光路调整、分子涡轮泵的，按实际情况建议走原厂。